西门子发布 Tessent RTL Pro 强化可测试性设计能力
西门子数字化工业软件近日推出 Tessent™ RTL Pro 创新软件解决方案，旨在帮助集成电路 (IC) 设计团队简化和加速下一代设计的关键可测试性设计 (DFT) 任务。
DFT
直播报名开启 | 为芯片质量保驾护航：谈谈芯片测试和DFT
10月20日晚19点，我们特别邀请到无锡玖熠半导体科技有限公司产品市场总监赵瑜斌、广东利扬芯片测试股份有限公司董事/总经理亦锋做客贸泽电子芯英雄联盟直播间，与大家围绕“芯片测试和DFT”展开讨论，欢迎预约围观！
直播报名开启 | 为芯片质量保驾护航：谈谈芯片测试和DFT
为什么ASIC设计流程中的可测性设计（DFT）很重要？
可测性设计（DFT）本质上是设计过程中的一个步骤，在这个过程中测试功能会被添加到硬件里。虽然这些功能对性能提升来说不是必须的，但作为测试制造过程的关键一步，它们确保了芯片在产品中能够正常运行。