史密斯英特康发布Volta 180系列探针头提升晶圆测试方案性能
史密斯英特康作为全球领先的半导体测试解决方案供应商,今天发布全新 Volta180 测试头扩大Volta产品线,支持市场对更小间距的晶圆尺寸,晶圆级芯片封装和已知合格芯片(Known Good Die)的测试需求。
史密斯英特康作为全球领先的半导体测试解决方案供应商,今天发布全新 Volta180 测试头扩大Volta产品线,支持市场对更小间距的晶圆尺寸,晶圆级芯片封装和已知合格芯片(Known Good Die)的测试需求。